3 超聲檢測(cè)設(shè)備、器件和材料

3.1 超聲檢測(cè)系統(tǒng) ultrasonic testing system

由超聲檢測(cè)儀、探頭和電纜組成的系統(tǒng).

3.2 超聲探傷儀 ultrasonic flaw detector

利用超聲波反射或透射原理,以檢查工件缺陷的儀器.其主要組成部分有同步電路、發(fā)射電路、接收電路、掃描電路、顯示電路、電源電路和探頭等.按顯示方式不同,可分為A型、B型、C型顯示等.

3.3 超聲測(cè)厚儀 ultrasonic thickness gauge

根據(jù)超聲波在材料或被檢件中的傳播時(shí)間或產(chǎn)生共振的原理設(shè)計(jì)的、用于測(cè)量材料或被檢件厚度的儀器.

3.4 超聲顯微鏡 ultrasonic microscope

利用超聲輻射工作的一種特殊的顯微鏡.

3.5 A型顯示 A-scope; A-scan

以水平基線(X軸)表示距離或時(shí)間,用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)(Y軸)表示輻度的一種信息顯示方法

3.6 B型顯示 B-scope; B-scan

一種能夠顯示被檢件的橫截面圖像,指示反射體的大致尺寸及其相對(duì)位置的超聲信息顯示方法.

3.7 C型顯示 C-scope; C-scan

一種能夠顯示被檢件縱剖面圖像的超聲信息顯示方法.

3.8 D型顯示 D-scope; D-scan

對(duì)被檢件體積內(nèi)的反射體作立體的圖形顯示.

3.9 MA型顯示 MA-scope; MA-scan

在探頭掃查過程中,將所得到的A型顯示圖形連續(xù)疊加的顯示.

3.10 發(fā)射脈沖 transmitted pulse

為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖.

3.11 時(shí)基線 time base

A型顯示熒光屏中表示時(shí)間或距離的水平掃描線.

同義詞:掃描線時(shí)間軸

3.12 掃描 sweep

電子束橫過探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動(dòng).

3.13 掃描速度 sweep speed

熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值.

3.14 掃描范圍 sweep range

熒光屏?xí)r基線上能顯示的最大聲程.

同義詞:時(shí)基范圍

3.15 延時(shí)掃描 delayed sweep

在A型或B型顯示中,使時(shí)基線的起始部分不顯示出來的掃描方法.

3.16 界面觸發(fā) interface trigger

以界面信號(hào)作為起始點(diǎn),將該點(diǎn)作為其他時(shí)序系統(tǒng)(例如閘門位置)的參照基準(zhǔn).

3.17 時(shí)基線展寬 expanded time-base sweep

時(shí)基線光點(diǎn)掃描速度的增加,能將被檢件厚度或長(zhǎng)度范圍內(nèi)選定區(qū)域的回波更詳細(xì)地在超聲探傷儀熒光屏上顯示出來.

同義詞:標(biāo)尺展寬 scale expansion

3.18 水平線性 horizontal linearity; time or distance linearity

超聲探傷熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)(通過校正的時(shí)間發(fā)生器或來自已知厚度平板的多次回波)成正比關(guān)系的程度.

同義詞:距離線性; 時(shí)基線性

3.19 垂直線性 vertical linearity

超聲探傷儀熒光屏上顯示的信號(hào)幅度與輸入接收器的信號(hào)幅度成正比關(guān)系的程度.

同義詞:幅度線性 amplitude linearity

3.20 水平極限 horizontal limit

熒光屏上能夠顯示的最大水平偏轉(zhuǎn)距離.

3.21 垂直極限 vertical limit

熒光屏上能夠顯示的反射脈沖的最大幅值.

3.22 動(dòng)態(tài)范圍 dynamic range

在增益調(diào)節(jié)不變時(shí),超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大與最小反射面積波高之比.通常以分貝表示.

3.23 脈沖重復(fù)頻率 pulse repetition frequency

為了產(chǎn)生超聲波,每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵(lì)探頭晶片的脈沖次數(shù).

同義詞:脈沖重復(fù)率 pulse repetition rate

3.24 檢測(cè)頻率 inspection frequency; test frequency

超聲檢測(cè)時(shí)所使用的超聲波頻率.通常為0.4-15MHZ.

同義詞:探傷頻率

3.25 回波頻率 echo frequency

回波在時(shí)間軸上進(jìn)行擴(kuò)展觀察所得到的峰值間隔時(shí)間的倒數(shù).

3.26 靈敏度 sensitivity

在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的最小超聲信號(hào)的一種量度.

3.27 靈敏度余量 surplus sensitivity

超聲探傷系統(tǒng)中,以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測(cè)靈敏度與最大探測(cè)靈敏度之間的差值.

3.28 穿透深度 penetration

超聲探傷時(shí),在被檢件中能夠測(cè)出回波信號(hào)的最大深度.

3.29 盲區(qū) dead zone

在一定探傷靈敏度下,從探測(cè)面到最近可探缺陷在被檢件中的深度.盲區(qū)由探頭、超聲探傷儀及被檢件的特性確定.

3.30 分辨率 resolution

超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個(gè)相鄰缺陷的能力.

3.31 縱向分辨率 longitudinal resolution

沿聲束傳播方向的分辨率.

3.32 橫向分辨率 transverse resolution

在距探頭橫向的一定距離上,垂直于聲束方向的分辨率.

3.33 脈沖調(diào)諧 pulse tuning

在某些超聲探傷儀上采用的一種控制方法,即通過調(diào)整發(fā)射脈沖的頻譜以使探頭和電纜對(duì)發(fā)射器具有最隹的響應(yīng).

3.34 飽和 saturation

輸入信號(hào)幅度增大而熒光屏上回波信號(hào)幅度不增大的一種現(xiàn)象.

3.35 觸發(fā)/報(bào)警狀態(tài) trigger/alarm condition

超聲儀器發(fā)現(xiàn)被檢件中有超標(biāo)檢出信號(hào)時(shí)發(fā)出指示的狀態(tài).

3.36 觸發(fā)/報(bào)警標(biāo)準(zhǔn) trigger/alarm level

超聲儀器用以區(qū)分被檢件為合格或不合格的信號(hào)幅度差的基準(zhǔn).

3.37 視頻顯示 video presentation

探頭接收到的超聲高頻信號(hào),經(jīng)檢波放大后形成探傷圖形的顯示方法.

同義詞:檢波顯示

3.38 射頻顯示 radio frequency(r-f) display

探頭接收到的超聲高頻信號(hào),被放大后直接進(jìn)行顯示的方法.

同義詞:不檢波顯示

3.39 時(shí)標(biāo) markers

用電子方法產(chǎn)生的一系列脈沖或其他方式使熒光屏?xí)r基線上依次出現(xiàn)的標(biāo)志信號(hào),用于距離或時(shí)間的測(cè)定.

3.40 距離刻度 distance marker; time marker

為便于直接指示缺陷位于被檢件內(nèi)的深度、水平距離、聲程等而加在探傷儀熒光屏?xí)r基線上的等分刻度.

3.41 抑制 reject; suppression

在超聲探傷儀中,為了減少或消除低幅度信號(hào)(電或材料的噪聲),以突出較大信號(hào)的一種控制方法.

3.42 閘門 gate

為監(jiān)控探傷信號(hào)或作進(jìn)一步處理而選定一段時(shí)間范圍的電子學(xué)方法.

3.43 衰減器 attenuator

使信號(hào)電壓(聲壓)定量改變的裝置.衰減量以分貝表示.

3.44 準(zhǔn)直器 collimator

控制超聲束的尺寸及方向的裝置.

3.45 信噪比 signal-to-noise ratio

超聲信號(hào)幅度與最大背景噪聲幅度之比.通常以分貝表示.

3.46 信號(hào)泄漏 cross talk

聲或電信號(hào)穿過預(yù)設(shè)隔離層的泄漏現(xiàn)象.

3.47 阻塞 quenching

接收器在接收到發(fā)射脈沖或強(qiáng)脈沖信號(hào)后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現(xiàn)象.

3.48 增益 gain

超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對(duì)數(shù)形式.以分貝表示.

3.49 距離幅度校正 distance amplitude correction; swept gain; time variable gain; time corrected gain

用電子學(xué)方法改變放大器,使不同深度上的相同反射體能產(chǎn)生同樣的回波幅度.

同義詞:DAC校正;深度補(bǔ)償

3.50 距離幅度曲線 distance gain size curve

根據(jù)規(guī)定的條件,由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離D(A)、探傷儀的增益G(V)和反射體的大小S(G)三個(gè)參量繪制的一組曲線.實(shí)際探傷時(shí),可由測(cè)得的缺陷距離和增益值,從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸.

同義詞:DGS曲線;AVG曲線

3.51 面積幅度曲線 area amplitude response curve

表示在垂直入射時(shí),傳聲介質(zhì)中離探頭等距但面積不同的平面反射體回波幅度變化的曲線.

3.52 耦合 coupling

在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用.

3.53 耦合劑 couplant

施加于探頭和探測(cè)面之間,以改善超聲能量傳遞的液態(tài)介質(zhì).

同義詞:耦合介質(zhì) coupling medium

3.54 噴液器 bubbler

利用噴射液流使超聲束與被檢件耦合的裝置.

3.55 施利倫系統(tǒng) Schlieren system

一種用于可視顯示超聲束在透明介質(zhì)中傳播情況的光學(xué)系統(tǒng).

3.56 試塊 test block

用于鑒定超聲檢測(cè)系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件.

3.57 標(biāo)準(zhǔn)試塊 standard tast block

材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或權(quán)威機(jī)構(gòu)檢定的試塊.用于對(duì)超聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度調(diào)整.

同義詞:校準(zhǔn)試塊 calibration block

3.58 對(duì)比試塊 reference block

調(diào)整超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊.一般采用與被檢材料特性相似的材料制成.

同義詞:參考試塊

3.59 壓電效應(yīng) piezoelectric effect

某些材料,在被施加作用力時(shí),能使其表面上產(chǎn)生電荷積累且可逆的效應(yīng),稱為壓電效應(yīng).

3.60 磁致伸縮效應(yīng) magnetostrictive effect

某些材料,在磁場(chǎng)中產(chǎn)生形變且可逆的效應(yīng),稱為磁致伸縮效應(yīng).

3.61 壓電材料 piezoelectric material

具有壓電效應(yīng)的材料,如石英、鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛等.

3.62 探頭 probe; search unit

發(fā)射或接收(或既發(fā)射又接收)超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件.該器件一般由商標(biāo)、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成.

同義詞:換能器 transducer

3.63 壓電換能器 piezoelectric transducer

以壓電效應(yīng)的形式,將電信號(hào)和機(jī)械振動(dòng)信號(hào)作可逆轉(zhuǎn)換的換能器.

3.64 電磁聲換能器 electro-magnetic acoustic transducer

由金屬表面電磁感應(yīng)產(chǎn)生的渦流和金屬內(nèi)恒定磁場(chǎng)之間相互作用而產(chǎn)生的洛侖茲力進(jìn)行電能與機(jī)械能的轉(zhuǎn)換,發(fā)射或接收超聲波的換能器.

3.65 磁致伸縮換能器 magnetostrictive transducer

以磁致伸縮效應(yīng)的形式,將電能和機(jī)械能可逆轉(zhuǎn)換的換能器.

3.66 直探頭 normal probe

進(jìn)行垂直探傷用的探頭,主要用于縱波探傷.

同義詞:直射聲束探頭 straight beam probe

3.67 斜探頭 angle probe

進(jìn)行斜射探傷用的探頭,主要用于橫波探傷.

同義詞:斜射聲束探頭 angle beam probe

3.68 縱波探頭 longitudinal wave probe

發(fā)射和接收縱波的探頭.

3.69 橫波探頭 shear wave probe

發(fā)射和接收橫波的探頭,如Y切石英探頭.

3.70 表面波探頭 surface wave probe

發(fā)射和接收表面波的探頭,用于表面波探傷.

3.71 聚焦探頭 focusing probe

能使超聲束聚焦的探頭.

3.72 可變角探頭 variable angle probe

能夠連續(xù)改變?nèi)肷浣堑奶筋^.

3.73 液浸探頭 immersion probe

用于液浸法探傷的探頭.

3.74 水柱耦合探頭 water column probe

進(jìn)行水柱耦合法探傷用的探頭.

同義詞:局部水浸探頭

3.75 輪式探頭 wheel type probe; wheel search unit

一個(gè)或多個(gè)壓電元件裝在一注滿液體的活動(dòng)輪胎中,超聲束通過輪胎的滾動(dòng)接觸面與探測(cè)面相耦合的一種探頭.

3.76 單晶片探頭 single crystal probe

用單個(gè)晶片制成的探頭,可兼作發(fā)射和接收.

3.77 雙晶片探頭 double crystal probe; twin probe T-R probe; S-E probe

裝有兩個(gè)晶片的探頭,一個(gè)作為發(fā)射器,另一個(gè)作為接收器.

同義詞:聯(lián)合雙探頭: 分割式探頭

3.78 硬膜探頭 hard-faced probe

為了減小磨損,用硬質(zhì)材料,如鋼或陶瓷制成保護(hù)膜的探頭.

3.79 軟膜探頭 soft-faced probe

采用彈性膜做保護(hù)膜,晶片與膠片之間的空隙充以液態(tài)耦合劑的探頭.

3.80 晶片 crystal

超聲探頭中的電聲轉(zhuǎn)換元件.主要采用石英、鈦酸鋇和鋯鈦酸鉛等壓電材料制成,其形狀有平面、曲面等.

3.81 晶片負(fù)載 crystal loading

由晶片向與之作聲耦合的介質(zhì)傳遞的單位面積的機(jī)械功.

3.82 機(jī)電耦合系數(shù) electro-mechanical coupling factor

壓電晶片機(jī)械能和電能之間相互轉(zhuǎn)換效率(耦合強(qiáng)弱)的參數(shù).

3.83 壓電應(yīng)變常數(shù) piezoelectric strain constant

單位電場(chǎng)強(qiáng)度產(chǎn)生應(yīng)變的大小.

3.84 壓電電壓常數(shù) piezoelectric voltage constant

單位壓力產(chǎn)生開路電場(chǎng)強(qiáng)度的大小.

3.85 壓電應(yīng)力常數(shù) piezoelectric stress constant

單位電場(chǎng)強(qiáng)度產(chǎn)生應(yīng)力的大小.

3.86 壓電勁度常數(shù) piezoelectric stiffness constant

單位應(yīng)變產(chǎn)生電場(chǎng)強(qiáng)度的大小.

3.87 介電常數(shù) dielectric constant

材料的介電特性.介電常數(shù)與壓電晶片附上電極后的電容有關(guān),也就是與壓電晶片呈現(xiàn)的電氣阻抗有關(guān).

3.88 頻率常數(shù) frequency constant

晶片共振頻率與其厚度的乘積.

3.89 品質(zhì)因數(shù) quality factor

表示因材料內(nèi)部摩擦而產(chǎn)生的機(jī)械損耗大小.品質(zhì)因數(shù)越大,機(jī)械損耗越小.

3.90 居里點(diǎn) Curie point

對(duì)壓電材料而言,是指鐵電相和順電相之間轉(zhuǎn)變的溫度.

同義詞:居里溫度 Curie temperature

3.91 電位移 electric displacement

電場(chǎng)強(qiáng)度乘以介質(zhì)常數(shù).

3.92 保護(hù)膜 diaphragm

為了保護(hù)晶片而貼在晶片前面的薄片.

3.93 斜楔 wedge

為了使超聲波傾斜入射于探測(cè)面而附加在晶片前面的楔狀物體.

3.94 聲透鏡 acoustical lens

裝配在晶片前面,使聲束聚焦的器件.

3.95 接觸塊 contact shoe; probe shoe

為了保護(hù)探頭,或?yàn)榱诉m應(yīng)特殊探測(cè)面以提高發(fā)射和接收效率而附在探頭前面的塊狀物體.

3.96 延遲塊 delay block

為使超聲脈沖持續(xù)時(shí)間等影響落在延遲過程中而附加在探頭晶片前的透聲材料,如雙晶片直探頭前的塊狀物體.

3.97 隔聲層 sound insulating layer

雙晶片探頭中用以使兩者在聲路上分割開來的吸聲性強(qiáng)的隔片.

3.98 探頭背襯 probe backing

在壓電晶片幅射有用超聲的另一面所粘接的用強(qiáng)吸聲和強(qiáng)阻尼材料制作的塊狀物體.

3.99 探頭阻尼 probe damping

用電或機(jī)械方法減小探頭相繼各周的振動(dòng)幅度,以限制探頭受脈沖激勵(lì)所產(chǎn)生的信號(hào)持續(xù)時(shí)間.

3.100 阻尼塊 damping block

與晶片或楔塊組合具有高阻尼效率的塊狀物體.

3.101 標(biāo)稱角度 nominal angle

探頭上標(biāo)志的入射角或鋼中折射角.

3.102 K值 K value

斜探頭折射角的正切值.

3.103 標(biāo)稱頻率 nominal frequency

探頭標(biāo)志頻率.

3.104 工作頻率 operating frequency

探頭發(fā)生的超聲脈沖頻譜的中心頻率.

3.105 探頭等效阻抗 probe equivalent impedance

探頭有一定聲負(fù)載條件下,輸入端電阻抗的絕對(duì)值.

3.106 偏向角 angle of squint

探頭側(cè)邊與聲束軸線在探測(cè)面上投影的夾角,對(duì)于斜探頭,偏向角通常與橫向偏差有關(guān).

3.107 屋頂角 roof angle

斜探頭中為在探測(cè)面上聲束投影和晶片法線之間的夾角;直探頭中為聲束軸線和晶片法線之間的夾角.

3.108 焦距 focal distance

聚焦探頭聲束實(shí)測(cè)焦點(diǎn)到探頭表面的距離.

3.109 焦點(diǎn)長(zhǎng)度 focus length

在焦點(diǎn)前后同焦點(diǎn)聲壓比差一定分貝數(shù)的長(zhǎng)度.

3.110 焦點(diǎn)寬度 focus width

聚焦直探頭焦點(diǎn)處的聲束寬度或聚集斜探頭在焦點(diǎn)處沿水平方向的寬度.

3.111 會(huì)聚點(diǎn) convergence point

雙晶片探頭發(fā)射和接收聲場(chǎng)軸線的交點(diǎn).

同義詞：交叉點(diǎn)

3.112 延遲聲程 delay path

晶片至探測(cè)面的聲程.

3.113 探頭入射點(diǎn) probe index

橫波探頭或表面波探頭上發(fā)射聲束軸線通過探頭底面的點(diǎn).

3.114 前沿距離 front distance

從斜探頭的入射點(diǎn)到探頭底面前端的距離.

4 超聲檢測(cè)方法

4.1 脈沖反射法 pulse echo method

將超聲脈沖發(fā)射到被檢件內(nèi),根據(jù)反射波的情況來檢測(cè)缺陷、材質(zhì)等的方法.

同義詞:脈沖回波法

4.2 穿透法 through transmission technique; transmission technique

超聲波由一個(gè)探頭發(fā)射,并由在被檢件相對(duì)一面的另一個(gè)探頭接收,根據(jù)超聲波的穿透程度來進(jìn)行探傷的方法.

4.3 共振法 resonance method

改變連續(xù)超聲波的頻率以確定被檢件的共振特性,從而鑒別被檢件的某些性質(zhì),例如厚度、剛性或粘接質(zhì)量的一種方法.

4.4 縱波法 longitudinal wave technique

使用縱波進(jìn)行探傷的方法.

4.5 橫波法 shear wave technique

使用橫波進(jìn)行探傷的方法

4.6 表面波法 surface wave technique

使用表面波進(jìn)行探傷的方法.這種方法主要用于表面光滑的材料或被檢件.

4.7 板波法 plate wave technique

使用板波進(jìn)行探傷的方法.這種方法主要用于薄板的探傷.

同義詞:蘭姆波法

4.8 垂直法 normal beam method; straight beam method

使用與探測(cè)面相垂直的超聲束進(jìn)行探傷的方法.

4.9 斜射法 angle beam method

使用與探測(cè)面成斜角的超聲束進(jìn)行探傷的方法.

4.10 聲阻法 acoustic impedance method

利用被檢件的振動(dòng)特性,即被檢件對(duì)探頭所呈現(xiàn)的聲阻抗的變化來進(jìn)行檢測(cè)的方法.

4.11 直接接觸法 direct contact method

探頭與探測(cè)面直接接觸的探傷方法.

4.12 接觸法 contact inspection

僅通過一層極薄的耦合劑使探頭與探測(cè)面接觸的探傷方法.

4.13 液浸法 immersion testing

將探頭和被檢件浸入(至少為局部浸入)液體(通常為水)中,探頭與探測(cè)面不直接接觸,以液體(水)為耦合介質(zhì)的探傷方法.

4.14 水柱耦合法 water column coupling method

將被檢件的一部分浸在水中或被檢件與探頭之間保持水層而進(jìn)行探傷的方法.

同義詞:局部水浸法

4.15 一次波法 single traverse technique

在斜射探傷中,超聲束不經(jīng)被檢件底面反射而直接指向缺陷的方法.

同義詞: 直射法 direct scan

4.16 二次波法 double traverse technique

在斜射探傷中,超聲束在被檢件底面只反射一次而指向缺陷的方法.

同義詞: 一次反射法 single bounce technique

4.17 三次波法 triple traverse technique

在斜射探傷中,超聲束在被檢件底面和探測(cè)面各反射一次后指向缺陷的方法.

nbsp; 同義詞: 二次反射法 double bounce technique

4.18 四次波法 quadruple traverse technique

在斜射探傷法中,超聲束在被檢件底面和探測(cè)面相繼反射三次后指向缺陷的方法.

同義詞: 三次反射法 triple bounce technique

4.19 多次反射法 multiple echo method

利用底面的多次反射波檢測(cè)材料中的超聲衰減、缺陷及被檢件厚度的方法.

4.20 陰影法 shadow technique

利用障礙物對(duì)超聲波產(chǎn)生的陰影(聲影)檢出被檢件中缺陷的方法.

4.21 單探頭法 single probe technique

用同一個(gè)探頭即發(fā)射又接收超聲波的方法.

4.22 雙探頭法 double probe technique

用兩個(gè)探頭分別發(fā)射和接收超聲波的探傷方法.

4.23 多探頭法 multiple probe technique

使兩個(gè)以上的探頭進(jìn)行探傷的方法.

4.24 一發(fā)一收法 pitch and catch technique

使用兩個(gè)分離探頭,其中一個(gè)用來將超聲能量射入被檢件,另一個(gè)置于能接收到缺陷反射波的位置的超聲檢測(cè)方法.

4.25 雙發(fā)雙收法 double transceiver technique

同時(shí)使用兩個(gè)探頭,每個(gè)探頭分別兼作發(fā)射器和接收器的超聲探傷方法.

4.26 初探 pre-test

在超聲探傷中,預(yù)先用高于規(guī)定探傷靈敏度進(jìn)行的探傷.

4.27 復(fù)探 final test

在超聲探傷中,對(duì)初探中發(fā)現(xiàn)的缺陷,用規(guī)定靈敏度仔細(xì)進(jìn)行操作,以確定其性質(zhì)、位置、大小和形狀等.

4.28 手動(dòng)檢測(cè) manual testing

探頭由手工操作,信號(hào)通過探傷人員觀察和評(píng)價(jià)的檢測(cè)方法.

4.29 機(jī)械化檢測(cè) remote controlled testing

檢測(cè)的實(shí)施、缺陷的信號(hào)觀察及評(píng)價(jià)全部或部分由機(jī)械裝置完成的檢測(cè)方法.

4.30 自動(dòng)檢測(cè) automatic testing

用電氣、油壓和氣壓等能量進(jìn)行探頭的機(jī)械掃查并能自動(dòng)記錄探傷結(jié)果的檢測(cè)方法.

4.31 探測(cè)面 test surface

在超聲檢測(cè)時(shí),超聲能量進(jìn)入或離開被檢件時(shí)所通過的表面.

同義詞:探傷面

4.32 界面 interface boundary

聲阻抗不同的兩種介質(zhì)的分界面.

4.33 底面 bottom surface

在垂直探傷中,與探測(cè)面相對(duì)的最遠(yuǎn)的被檢件表面.

同義詞:背面 back surface; back wall

4.34 側(cè)面 side wall

在垂直探傷中,被檢件除探測(cè)面和底面之外的面.

4.35 端面 edge

在斜射探傷和板波探傷中,指能反射超聲波的板厚方向的傾面,相當(dāng)于垂直探傷中的底面.

4.36 缺陷有效反射面 effective reflection surface of flaw

聲束射及缺陷時(shí),能被沿原路徑反射回來的缺陷表面.

4.37 回波 echo

從反射體上反射回來的超聲信號(hào).

同義詞:反射波 reflected wave

4.38 回波指示 echo indication

超聲探傷儀上所顯示的回波.

4.39 界面回波 interface echo

由聲阻抗不同的兩種介質(zhì)的交界面產(chǎn)生的回波.

同義詞: 界面波

4.40 邊界一次回波 boundary echo(first)

來自被檢件任何邊界的反射,以可能最短的聲程返回到探頭所在表面的回波.此術(shù)語僅限于橫波和表面波探傷時(shí)使用.

4.41 底面回波 bottom echo

由被檢件底面反射回來的波.

同義詞:背面回波 back reflection; back-wall echo

4.42 參考回波 control echo

從一個(gè)恒定的反射面,例如底面反射回來的參考信號(hào).

4.43 穿透顯示 display through

在穿透法中所顯示的接收到的聲信號(hào).

4.44 干擾回波 parasitic echo

妨礙探傷結(jié)果評(píng)定的各種回波總稱為干擾回波.其中包括假反射波,楔內(nèi)反射波以及因儀器的噪聲、外界干擾等產(chǎn)生的反射波等.

4.45 形狀回波 form echo

因被檢件的幾何形狀引起的回波.

4.46 棱邊回波 edge echo

來自邊緣的形狀回波.

同義詞: 棱邊波

4.47 多次回波 multiple reflections

超聲波在兩個(gè)不同的界面之間相繼多次往復(fù)所形成的回波.

同義詞:多次反射 multiple reflections

4.48 多次底面反射 multiple back reflections

來自被檢件底面的相繼多次反射.

4.49 底面反射損失 loss of back reflection

被檢件底面反射波幅度的減弱或消失.

同義詞: 背面反射損失

4.50 遲到回波 delayed echo

來自同一反射體的回波,因所經(jīng)的路徑不同或在途中發(fā)生波型轉(zhuǎn)換而遲后到達(dá)的回波.

4.51 表面回波 surface echo

從被檢件表面反射回來的波.

4.52 幻象回波 phantom echo

由于超聲探傷儀重復(fù)頻率過高,在透聲性良好的材料中所出現(xiàn)的非真實(shí)回波(虛幻波).

4.53 反常回波 ghost echo

由于脈沖重復(fù)頻率和時(shí)基線頻率匹配組合失當(dāng)而形成的回波顯示.

4.54 草狀回波 grass

由于超聲波在材料的晶界或小反射體上反射而形成的空間隨機(jī)信號(hào).

同義詞: 林狀回波

4.55 楔內(nèi)回波 spurious echo

聲束斜入至楔底時(shí),有一部分被反射,由于這部分聲能在楔內(nèi)的雜亂反射而形成在熒光屏上出現(xiàn)始脈沖后的回波.

4.56 缺陷回波 flaw echo

由被檢件內(nèi)部或表面缺陷引起的回波.

同義詞: 缺陷反射波; 傷波

4.57 密集回波 cluster echo

為數(shù)甚多且彼此間距甚小的一群回波.

4.58 游動(dòng)回波 traveling echo

在正常探傷靈敏度下,隨著探頭的移動(dòng)而在熒光屏上有明顯游動(dòng)的缺陷回波,稱為游動(dòng)回波.

4.59 噪聲 noise

對(duì)有用信號(hào)的接收、解釋或處理起干擾作用的任何無用的(電或聲)信號(hào).

4.60 表面噪聲 surface noise

由于表面凹凸不平,在耦合層內(nèi)的超聲反射形成的不希望有的信號(hào),通常顯示在離發(fā)射脈沖很近的距離上.

4.61 電子噪聲 electronic noise

由探傷儀放大器中電子干擾和熱噪聲引起的隨時(shí)間而迅速變化的無用的無規(guī)則信號(hào).

4.62 反射體 reflector

超聲束遇到聲阻抗改變時(shí)產(chǎn)生反射的界面,按其形狀有球面、圓柱形、圓盤形和槽形等.

4.63 人工缺陷 artificial defect

在探傷過程中,為了調(diào)整或校準(zhǔn)探傷系統(tǒng)的靈敏度等,用各種方法在試塊或被檢件上加工制成的人工傷,如平底孔、橫孔、槽等.

4.64 平底孔 flat-bottomed hole

平底的圓柱形盲孔.其圓平面用作為超聲反射體.

4.65 橫孔 cross-drilled hole

平行于探測(cè)面并與所置的探頭成正交方向的圓柱形鉆孔.其圓柱面形成超聲反射體.

4.66 探測(cè)范圍 test range

按比例調(diào)整后熒光屏整個(gè)時(shí)間軸(滿刻度)所代表的距離范圍.

4.67 探傷靈敏度 working sensitivity

在規(guī)定條件(頻率、增益、抑制等)下能探出最小缺陷的能力.

4.68 掃查靈敏度 scanning sensitivity

為防止漏檢,在初探中所采用的較規(guī)定靈敏度高的靈敏度.

4.69 規(guī)定靈敏度 specified sensitivity

根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)要求(規(guī)程、說明書等)確定的靈敏度.

4.70 探傷圖形 pattern

在超聲探傷儀的熒光屏或記錄裝置上顯示或記錄探傷結(jié)果的圖形.

4.71 回波高度 echo height

探傷圖形上的反射脈沖高度,用分貝值或標(biāo)準(zhǔn)刻度板上的百分?jǐn)?shù)表示.

同義詞:回波幅度 echo amplitude

4.72 回波寬度 echo width

從校正的超聲探傷儀熒光屏水平掃描線刻度上讀出的回波寬度.

4.73 始脈沖 initial pulse

發(fā)射脈沖在熒光屏上的顯示.

4.74 始波寬度 inital pulse width

始脈沖起始點(diǎn)(前沿)和結(jié)束點(diǎn)(后沿)之間的間距.

同義詞:始脈沖寬度

4.75 直射聲束 straight beam

垂直于探測(cè)面?zhèn)鞑サ某暿?

4.76 斜射聲束 angle beam

以一定入射角和一定折射角在被檢件內(nèi)傳播的超聲束.

4.77 聚焦聲束 focused beam

在特定距離上,聲能量聚集的聲束.

4.78 聲束入射點(diǎn) beam index

入射聲束軸線與被檢件表面的交點(diǎn).

4.79 跨距點(diǎn) skip point

橫波探傷中,探測(cè)面上和底面上與聲束軸線相交的反射點(diǎn).

4.80 透射點(diǎn) transmission point

與超聲能量進(jìn)入被檢件的瞬間相一致的顯示在時(shí)基線上的一點(diǎn).

4.81 耦合損失 coupling losses

由于超聲波通過耦合劑而導(dǎo)致超聲波幅度的降低.

4.82 傳輸修正 transfer correction

因被檢件與校準(zhǔn)試塊的聲能透入量不同而對(duì)超聲儀器放大量進(jìn)行的修正,包括表面聲能損失修正(表面補(bǔ)償)和衰減補(bǔ)償.

同義詞:傳輸補(bǔ)償

4.83 掃查 scanning

在進(jìn)行超聲探傷時(shí),探測(cè)面上的探頭與被檢件的相對(duì)移動(dòng).

4.84 掃查區(qū)域 scanning zone

探頭與探測(cè)面相對(duì)移動(dòng)的范圍.

4.85 掃查速度 scanning speed

探頭與探測(cè)面相對(duì)移動(dòng)的速度.

4.86 掃查軌跡 scanning path

探頭在探測(cè)面上移動(dòng)的軌跡.

4.87 掃查間距 scan pitch

當(dāng)探頭在掃查區(qū)移動(dòng)時(shí),掃查線之間的間距或螺距.

4.88 間接掃查 indirect scan

利用被檢件的一個(gè)表面或幾個(gè)表面的反射,使超聲束對(duì)準(zhǔn)缺陷的掃查方法.

4.89 間隙掃查 gap scanning

探頭與探測(cè)面之間通過少量液體耦合的掃查方法.

4.90 接觸掃查 contact scanning

探頭與被檢件在接觸狀態(tài)下進(jìn)行的掃查方法.

4.91 全面掃查 all-round scan

探頭在整個(gè)探測(cè)面上無一遺漏地循序移動(dòng)(相鄰掃查線的間距不大于探頭的直徑)的掃查方法.

4.92 局部掃查 local scan

在整個(gè)探測(cè)面上探頭按規(guī)定要求有間距地規(guī)則移動(dòng)(相鄰掃查線的間距一般大于探頭的直徑)的掃查方法.

4.93 線掃查 linear scan

探頭在平板類被檢件的探測(cè)面上以一定的間距作直線移動(dòng)或斜直線移動(dòng)的掃查方法.

4.94 格子線掃查 scan on grid lines

探頭按預(yù)先劃好的格子線先循一個(gè)方向作直線移動(dòng),然后再轉(zhuǎn)移90°,沿與原方向垂直的方向作直線移動(dòng)的掃查方法.

4.95 點(diǎn)掃查 spot scan

探頭不作移動(dòng),僅作跳躍式地與被檢件指定點(diǎn)接觸,或者不作定點(diǎn)(等間距)接觸,而是根據(jù)需要在適當(dāng)部位上抽檢的掃查方法.

4.96 前后掃查 travering scan; depth scan

在橫波探傷中,探頭在焊縫垂直的方向前后移動(dòng)的掃查方法.

4.97 左右掃查 lateral scan

在橫波探傷中,探頭與焊縫距離一定,將探頭平行于焊縫移動(dòng)進(jìn)行掃查的方法。

4.98 斜平行掃查 lateral scan with oblique angle

在橫波探傷中,使用一個(gè)探頭斜對(duì)著焊縫,平行于焊縫移動(dòng)探頭的掃查方法.

4.99 環(huán)繞掃查 swivel scan

被檢件送進(jìn)的同時(shí),探頭垂直于被檢件表面,沿探測(cè)面旋轉(zhuǎn)的掃查方法.

4.100 轉(zhuǎn)動(dòng)掃查 rotational scan

在橫波探傷中,以探頭的入射點(diǎn)為中心,轉(zhuǎn)動(dòng)探頭,以改變聲束相對(duì)焊縫的方向的掃查方法.

4.101 串列掃查 tandem scan

厚板焊縫等的橫波探傷中,在焊縫的一側(cè)前后排列兩個(gè)探頭,一發(fā)一收進(jìn)行掃查的方法.

4.102 焊縫上掃查 scanning directly on the weld

在橫波探傷中,對(duì)鏟平增強(qiáng)部分的焊縫,為檢查橫向裂紋等缺陷,把探頭置于焊縫上,使超聲束向著焊縫的方向,在焊縫上移動(dòng)探頭的掃查方法.

4.103 交叉掃查 straddle scan

在焊縫的每一側(cè)各放置一個(gè)探頭,一發(fā)一收來探測(cè)對(duì)接焊縫橫向缺陷的掃查方法.

同義詞: 跨過掃查

4.104 平行掃查 parallel scan

探頭直接置于探測(cè)面部位的表面,移動(dòng)方向與該部位軸線并行,主要用于發(fā)現(xiàn)橫向缺陷.

4.105 鋸齒掃查 zigzag scan

在焊縫橫波探傷中,探頭一邊前后移動(dòng),一邊稍微平行于焊縫移動(dòng)成鋸齒形軌跡的掃查方法.

4.106 聲程 beam path; path length

在探傷中,聲束單向通過的路程.

4.107 跨距 skip distance

在斜射探傷中,在探測(cè)面上從聲波入射點(diǎn)到聲波經(jīng)底面反射回至該探測(cè)面的一點(diǎn)之間的水平距離.

4.108 定位 location

利用已知尺寸的試塊(或工件)作為反射體來調(diào)節(jié)探傷儀的時(shí)間軸,然后根據(jù)反射波出現(xiàn)在時(shí)間軸上的位置來確定缺陷的位置.

4.109 水平定位 horizontal location

調(diào)節(jié)時(shí)間掃描線與水平距離成相應(yīng)的比例關(guān)系進(jìn)行的定位.

4.110 垂直定位 vertical location

調(diào)節(jié)時(shí)間掃描線與深度距離成相應(yīng)的比例關(guān)系進(jìn)行的定位.

4.111 聲程定位 beam path location

調(diào)節(jié)時(shí)間掃描線與聲程距離成相應(yīng)的比例關(guān)系進(jìn)行的定位.

4.112 缺陷前沿距離 front distance of flaw

在探測(cè)面上斜探頭的前端到缺陷的距離.

4.113 水平距離 probe distance

在探測(cè)面上斜探頭入射點(diǎn)到缺陷的距離.

同義詞: 探頭距離

4.114 探頭-焊縫距離 probe to weld distance

在探測(cè)面上斜探頭入射點(diǎn)到焊縫中心的水平距離.

4.115 水程 water path; water distance

在液浸法或水柱耦合法探傷中,從探頭表面到探測(cè)面聲束入射點(diǎn)之間的距離.

同義詞: 水層距離

4.116 深度位置 depth position

反射體至探測(cè)面的距離.

4.117 深度范圍 depth extension

垂直于探測(cè)面反射體在深度方向的范圍.

4.118 定量法 sizing technique

根據(jù)缺陷構(gòu)成的超聲響應(yīng)評(píng)估缺陷尺寸的方法.

4.119 當(dāng)量 equivalent

用于缺陷比較的某種類型的人工缺陷的大小.

4.120 當(dāng)量法 equivalent method

在一定的探測(cè)條件下,用某種規(guī)則的人工缺陷反射體尺寸來表征被檢件中實(shí)際缺陷相對(duì)尺寸的一種定量方法.

4.121 平底孔當(dāng)量 flat-bottomed hole equivalent

指相同距離上的缺陷給出的超聲指示與某一尺寸平底孔的超聲指示相當(dāng).

4.122 對(duì)比試塊法 reference block method

用對(duì)比試塊已知反射體顯示與被檢件所獲顯示相比較的評(píng)價(jià)方法.

4.123 基準(zhǔn)線法 reference line method

用特定聲程、幾何形狀及尺寸的反射體制作參考曲線來評(píng)價(jià)被檢件所獲顯示的評(píng)價(jià)方法.

同義詞:參考線法

4.124 半波高度法 half-value method

在同一探測(cè)條件下,對(duì)探頭從獲得最大反射回波的位置,移動(dòng)至回波高度為原來波的半值來評(píng)價(jià)反射體尺寸的方法.

4.125 缺陷指示長(zhǎng)度 indicated defect length

將超聲探傷估定缺陷的始端和終端位置投影在探傷材料表面上并連接其兩點(diǎn)間的長(zhǎng)度.

4.126 缺陷指示面積 indicated defect area

缺陷指示長(zhǎng)度與寬度或高度的乘積.

4.127 聲全息術(shù) acoustic holography

利用聲波的特性實(shí)現(xiàn)的全息成像技術(shù).