GB/T12604.1—2020 與超聲波檢測(cè)相關(guān)的術(shù)語(yǔ)

6.1 檢測(cè)技術(shù)

6.1.1  脈沖回波技術(shù)pulseecho technique/脈沖反射技術(shù)

用同一探頭(5.2.1)發(fā)射超聲波脈沖和接收在下一個(gè)(連續(xù)的)脈沖(3.2.7)被發(fā)射之前的回波(6.5.1)的檢測(cè)技術(shù)。

6.1.2  串列技術(shù) tandem technique

采用兩個(gè)或多個(gè)具有相同折射角,面向同一方向,聲柬軸均在與檢測(cè)面(6.2.1)相垂直的同一平面內(nèi)的斜探頭(5.2.13),其中一個(gè)探頭(5.2.1)用于發(fā)射,其余用作接收的掃查技術(shù)。注 1:此技術(shù)主要用于檢測(cè)垂直于檢測(cè)面(6.2.1)的不連續(xù)。注 2:見(jiàn)圖 15。

6.1.3 穿透技術(shù)through-transmission technique

超聲波(3.2.1)由一個(gè)探頭發(fā)射,穿過(guò)試件進(jìn)人另一探頭,根據(jù)透射波強(qiáng)度的變化來(lái)對(duì)材料質(zhì)量進(jìn)行評(píng)定的檢測(cè)技術(shù)。

6.1.4 接觸技術(shù) contact technique

用一個(gè)(或多個(gè))超聲探頭(5.2.1)直接與試件接觸[通常兩者之間有一薄層耦合劑(6.3.3)]進(jìn)行掃查的技術(shù)。

注:對(duì)于不直接接觸的技術(shù),參見(jiàn)液層技術(shù)(6.1.5)和液漫技術(shù)(6.1.6)。

6.1.5  液層技術(shù) gap technique

探頭(5.2.1)與試件表面不直接接觸而是通過(guò)一厚度不大于幾個(gè)波長(zhǎng)(3.2.4)的液層耦合進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)。注:見(jiàn)圖 16。

6.1.6、液浸技術(shù) immersion technique

試件和探頭(5.2.1)均被浸人用作耦合劑(6.3.3)的液體中的一種超聲檢測(cè)技術(shù)注1:可全部或部分液浸,也包括使用噴水器的方式。注2:受探頭設(shè)置和試件幾何形狀的影響,可能會(huì)發(fā)生聲束折射。

6.1.7、多次回波技術(shù) multiple-echo technique

根據(jù)來(lái)自背面或不連續(xù)處的多次反射波的幅度以及聲程進(jìn)行評(píng)定的技術(shù)

注1:多次回波的幅度(3.2.2)可用以評(píng)價(jià)材質(zhì)或連接質(zhì)量。

注 2:為提高壁厚(聲程)測(cè)量的準(zhǔn)確度,可利用盡可能多的回波(6.5.1)次數(shù)。

6.1.8、底波損失loss of back-wall echo

試件背面回波(6.5.1)幅度(3.2.2)的嚴(yán)重下降

6.1.9衍射時(shí)差技術(shù) timeof-flight diffraction technique;TOFD) technique

利用試件中不連續(xù)的衍射信號(hào)的聲時(shí)(3.2.6)進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)。

注 1:通常將一對(duì)縱波(3.3.1)斜探頭(5.2.13)(一發(fā)射一接收)對(duì)稱(chēng)布置于檢測(cè)區(qū)域。注 2:例如,參見(jiàn) ISO 16828。

6.1.10合成孔徑聚焦技術(shù) synthetic aperture focusing technique;SAFT

通過(guò)對(duì)多個(gè)連續(xù)采集信號(hào)的數(shù)字處理,使一個(gè)非聚焦探頭的孔徑得到合成擴(kuò)大以改善超聲圖像分辨率的技術(shù)。

6.1.11掃查 scanning

探頭(5.2.1)與試件之間的相對(duì)移動(dòng)。

注:掃查可由檢測(cè)人員人工操作或由機(jī)械裝置自動(dòng)操作。

6.1.12一次波掃查技術(shù) direct scanning technique

聲束(4.2.2)不經(jīng)中間反射而直接進(jìn)人檢測(cè)區(qū)進(jìn)行掃查(6.1.11)的技術(shù)。注:見(jiàn)圖 17。

6.1.13、多次波掃查技術(shù)indirect scanning technigue

聲束(4.2.2)經(jīng)試件的一個(gè)或多個(gè)表面反射(4.4.3)后進(jìn)入檢測(cè)區(qū)進(jìn)行掃查(6.1.11)的技術(shù)。

6.1.14、環(huán)繞掃查orbital scanning

為了獲得先前已確定好位置的反射體的形狀信息,利用斜探頭(5.2.13)圍繞反射體進(jìn)行的一種掃查(6.1.11)。注:見(jiàn)圖 18。

6.1.15、旋轉(zhuǎn)掃查:swivel scanning

使斜探頭(5.2.13)以通過(guò)探頭人射點(diǎn)并垂直于檢測(cè)面的垂線為中心軸進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)的掃查(6.1.11)技術(shù)。注:見(jiàn)圖 19。

6.1.16、渦旋掃查 spiral scanning

對(duì)圓盤(pán)狀試件,探頭在沿試件徑向移動(dòng)的同時(shí),試件自身旋轉(zhuǎn)、掃査軌跡為渦旋線的掃查(6.1.11)技術(shù)。

6.1.17、螺旋掃查 helical scanning

對(duì)圓柱形試件,使探頭在沿試件軸向移動(dòng)的同時(shí)又繞試件中心軸相對(duì)旋轉(zhuǎn),掃查軌跡為螺旋線的掃查(6.1.11)技術(shù)。

6.1.18、自動(dòng)超聲檢測(cè) automated ultrasonic testing;AUT

一種探頭(5.2.1)在機(jī)械控制下運(yùn)動(dòng)且自動(dòng)采集超聲數(shù)據(jù)的檢測(cè)技術(shù)注:數(shù)據(jù)可按預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)分析而不需要人的介人。

6.1.19、聲學(xué)成像 acoustical imaging

利用超聲波檢測(cè)信號(hào)生成試件的圖像

6.1.20、聲學(xué)全息成像 acoustical holography

利用試件中反射的聲場(chǎng)(4.2.1)信息重建并生成試件的三維圖像。

6.1.21、聲學(xué)層析成像 acoustical tomography

利用多個(gè)表征試件內(nèi)不同截面的二維聲學(xué)圖像生成試件的三維圖像。

6.1.22、聲程測(cè)量模式 measurement modes

利用超聲回波脈沖確定聲時(shí)差的技術(shù)。

6.1.23、邊沿測(cè)量模式 fank-to-flank measurement mode

通常利用上升沿(前沿)或下降沿(后沿)在規(guī)定幅度(3.2.2)下測(cè)量?jī)蓚€(gè)回波(6.5.1)的相似邊沿之間的聲時(shí)差的測(cè)量模式。

6.1.24、峰值測(cè)量模式peak-to-peak measurement mode

測(cè)量?jī)蓚€(gè)回波(6.5.1)的最大幅度之間的聲時(shí)差的測(cè)量模式。

6.1.25、過(guò)零測(cè)量模式zero crossing measurement mode

測(cè)量?jī)蓚€(gè)回波(6.5.1)的對(duì)應(yīng)過(guò)零點(diǎn)(6.1.26)之間的聲時(shí)差的測(cè)量模式。

6.1.26、過(guò)零點(diǎn)zero crossing

一個(gè)未檢波信號(hào)的瞬態(tài)幅度改變極性的時(shí)刻。

6.2  試件

6.2.1、檢測(cè)面test surface/掃查面scanning surtace

探頭(5.2.1)或探頭組在其上移動(dòng)的試件表面

6.2.2、檢測(cè)區(qū)域 test area

試件上欲實(shí)施檢測(cè)的指定區(qū)域。

6.2.3、檢測(cè)體積 test volume

試件內(nèi)被檢測(cè)所覆蓋的體積，

6.2.4、探頭指向probe orientation

斜探頭掃查(6.1.11)時(shí),其聲東軸線(4.2.3)在檢測(cè)面(6.2.1)上的投影與參考線之間所保持的角度注:見(jiàn)圖 20。

6.2.5、掃查方向scanning direction

在檢測(cè)面(6.2.1)上探頭(5.2.1)的移動(dòng)方向。注:見(jiàn)圖 20。

6.2.6、入射點(diǎn) point of incidence

聲束(4.2.2)進(jìn)人試件的點(diǎn)注:見(jiàn)圖 15 和圖 16。

6.2.7、接收點(diǎn) receiving point

試件上接收反射聲束(4.2.2)或透射聲束的點(diǎn)注:見(jiàn)圖 15。

6.3 耦合

6.3.1、聲阻抗匹配acoustical impedance matching

為使超聲在兩材料間的傳輸性能最佳,使兩者的聲阻抗(4.4.7)相適應(yīng)，

6.3.2、耦合技術(shù)coupling techniques

使超聲從探頭(5.2.1)透射(耦合)到試件內(nèi)并返回的技術(shù)

6.3.3、耦合劑 couplant/耦合介質(zhì)coupling medium

施加于探頭(5.2.1)和檢測(cè)面之間以改善聲能傳遞的介質(zhì),如水、甘油或油等注:見(jiàn)圖 16。

6.3.4、耦合劑聲程 couplant path

探頭入射點(diǎn)(5.2.16)與聲東入射點(diǎn)(6.2.6)之間耦合劑(6.3.3)中的距離。注:見(jiàn)圖 16。

6.3.5、耦合損失 coupling losses

穿過(guò)探頭(5.2.1)和試件之間的界面(4.4.1)時(shí),聲能的傳輸損失。

6.4 反射體

6.4.1反射體 reflector

超聲東遇到聲阻抗變化的、且至少部分超聲被反射的界面(4.4.1)。注:見(jiàn)圖 15 和圖 19。

6.4.2參考反射體reference reflector

標(biāo)準(zhǔn)試塊(5.4.1)或參考試塊(5.4.2)中已知形狀、尺寸和距檢測(cè)面(6.2.1)距離的、用于校準(zhǔn)與評(píng)系統(tǒng)靈敏度的反射體(6.4.1)。

示例:橫孔(6.4.4),平底孔(6.4.3),半球底孔(6.4.5),槽(6.4.6)注:見(jiàn)圖 14。

6.4.3、平底孔 flat-bottomed hole:FBH/圓盤(pán)形反射體 disc-shaped reflector

其平底面作為一個(gè)垂直于聲東軸線(4.2.3)的圓盤(pán)形反射體的鉆孔，

6.4.4、橫孔 side-drilled hole;SDH、圓柱形反射體 cylindrical reflector

圓柱表面作為反射體(6.4.1)的垂直于聲束軸線(4.2.3)的圓柱形鉆孔。

6.4.5、半球底孔 hemispherical-bottomed hole、球形反射體 spherical-shaped reflector

其半球底面作為反射體(6.4.1)的接近平行于聲束軸線(4.2.3)的鉆孔，

6.4.6、槽 notch

通常垂直于表面的,以側(cè)壁和(或)底面作為反射面的平面型表面開(kāi)口反射體(6.4.1)。

6.5 信號(hào)和指示

6.5.1、回波echo

從試件接收到并顯示于超聲檢測(cè)儀(5.1.1)上的信號(hào)。注 1:見(jiàn)圖 21。

注 2:受檢測(cè)設(shè)置的影響,可能會(huì)接收到額外的回波。

6.5.2、底波back-wall echo

來(lái)自垂直于聲東軸線且位于探頭(5.2.1)對(duì)側(cè)的試件表面的回波(6.5.1)。注:見(jiàn)圖 21。

6.5.3、界面波 surface echo

通常在液浸技術(shù)(6.1.6)或使用帶延遲塊(5.2.7)探頭的接觸技術(shù)(6.1.4)中出現(xiàn)的、來(lái)自檢測(cè)面(6.2.1)的回波(6.5.1)。注:參見(jiàn)界面回波(6.5.9)。

6.5.4、側(cè)壁回波 side-wall echo

來(lái)自除底面和檢測(cè)面(6.2.1)以外的表面的回波(6.5.1)

6.5.5、回波寬度 echo width

在指定水平測(cè)量的回波(6.5.1)持續(xù)時(shí)間，

6.5.6、回波高度 echo height

顯示屏所顯示出的回波的高度。

6.5.7、干擾回波spurious echo

與不連續(xù)不相關(guān)的且對(duì)檢測(cè)毫無(wú)意義的回波(6.5.1)。

6.5.8、多次回波multiple echo

超聲脈沖在兩個(gè)或多個(gè)界面(4.4.1)或不連續(xù)之間往復(fù)反射所形成的回波(6.5.1)。

6.5.9、界面回波 interface echo

來(lái)自?xún)煞N不同介質(zhì)的界面(4.4.1)的回波(6.5.1)。注:通常用于連接面檢測(cè)。

6.5.10、幻象波 ghost echo;phantom echo

源于前一個(gè)激勵(lì)周期所發(fā)射脈沖的回波(6.5.1)。

6.5.11、回波圖echo pattern

顯示于檢測(cè)儀上的一個(gè)或多個(gè)回波(6.5.1)的典型圖形。注:例如,參見(jiàn) ISO 23279。

6.5.12、動(dòng)態(tài)回波圖dynamic echo pattern當(dāng)移動(dòng)探頭(5.2.1)時(shí),由檢測(cè)儀顯示的單獨(dú)回波(6.5.1)所形成的包絡(luò)圖注:例如,參見(jiàn) ISO 23279。

6.5.13、靜態(tài)回波圖static echo pattern

當(dāng)靜置探頭(5.2.1)時(shí),由檢測(cè)儀顯示的單獨(dú)回波(6.5.1)圖。

注:例如,參見(jiàn) ISO 23279。

6.5.14、指示 indication

超聲檢測(cè)儀(5.1.1)上顯示的,區(qū)別于噪聲(6.5.15)、界面波和底波(6.5.2)的任何信號(hào)。

6.5.15、噪聲 noise

干擾目標(biāo)信號(hào)的接收、解釋或處理的非期望信號(hào)(電信號(hào)或聲信號(hào))。

6.5.16噪聲水平 noise level

超聲檢測(cè)系統(tǒng)中背景噪聲(6.5.15)的幅度(3.2.2)。

6.5.17信噪比 signal-to-noise ratio

目標(biāo)超聲信號(hào)的幅度與同一位置附近的噪聲(6.5.15)信號(hào)幅度(3.2.2)之比。

6.5.18始脈沖指示transmission pulse indication

顯示于超聲檢測(cè)儀(5.1.1)上的發(fā)射脈沖(5.1.3)的指示(6.5.14)。注：見(jiàn)圖 21。

6.5.19、透射點(diǎn) transmission point、零點(diǎn) zero point

時(shí)基線(5.1.15)上對(duì)應(yīng)于超聲波進(jìn)人試件的時(shí)刻點(diǎn)。

注:透射點(diǎn)不一定與始脈沖指示(6.5.18)重合,例如在液浸檢測(cè)或使用延遲塊(5.2.7)探頭檢測(cè)時(shí)。

6.5.20、時(shí)基線擴(kuò)展expanded time base;scale expansion

為了使來(lái)自試件厚度或長(zhǎng)度范圍內(nèi)選定區(qū)的回波(6.5.1)在熒光屏上顯示出更多的細(xì)節(jié),放大時(shí)基線范圍內(nèi)選定的部分。

6.5.21、顯示響應(yīng)時(shí)間 display response

顯示設(shè)備從一個(gè)顯示狀態(tài)變換到另一狀態(tài)所需的時(shí)間注:顯示響應(yīng)時(shí)間會(huì)限制掃查速度。

6.5.22、射頻信號(hào)radio frequeney signal;RF signal未檢波信號(hào)。

注:超聲檢測(cè)中,術(shù)語(yǔ)“射頻”具有誤導(dǎo)性,因?yàn)椴⑽词褂脽o(wú)線電頻率。