1、寬頻帶探頭比窄頻帶探頭激發(fā)時間更短的脈沖波,具有更好的分辨力,一般用于涂層或薄板的測厚。在測量高衰減材料時,寬頻帶探頭獲得更穩(wěn)定的回波。

2、探頭尺寸和頻率的選擇應能獲得較窄的聲束寬度,以精確測量限定的區(qū)域,并能穿透整個厚度范圍。

3 、對于薄的材料,一般使用高阻尼、高頻率探頭。高頻(10MHz或更高)延遲塊探頭可用于0.2mm左右厚度鋼材料的測量;也可采用小焦距雙晶探頭進行薄材料的測量。對于雙晶探頭,焦距范圍應覆蓋被測產(chǎn)品的厚度范圍。

4、當測量較小厚度的產(chǎn)品時,可使用延遲塊探頭采用回波-回波或多次回波校驗法進行測量。當延遲塊材料聲阻抗較低時,如塑料延遲塊放在金屬上測量,界面回波產(chǎn)生相位轉(zhuǎn)變,應校正以獲得準確的測量結(jié)果,有些測厚儀具備自動校正功能。

5、當材料表面溫度較高,延遲塊做為熱屏障使用時,延遲塊應能承受被測產(chǎn)品的溫度。測量前應了解溫度對延遲塊聲特性的影響(聲衰減和聲速漂移)。探頭制造商應提供探頭可使用的溫度范圍和測量溫度下的使用時間。

6、根據(jù)不同的厚度和材料,探頭頻率范圍可從測量高衰減材料使用的100kHz到測量薄金屬片使用的50 MH。

7 、如使用雙晶探頭,應對聲波傳輸V型路徑的誤差進行補償。通常在測量薄材料時雙品探頭的傳播時間與厚度不再有線性關(guān)系,測量的厚度越小,這種非線性越嚴重，變化示意圖見圖2a)所示,典型的誤差值見圖2b)。

8 、在弧面上測量時,應保證探頭直徑遠小于被測區(qū)域。