有很多剛接觸超聲波探傷的小白們，對于超聲檢測中應(yīng)用的專業(yè)術(shù)語都不太了解，今天沈陽宇時先鋒檢測儀器有限公司給大家整理了一下超聲檢測中常見的專業(yè)術(shù)語，供大家參考！

  超聲無損檢測有很多名詞術(shù)語，常用的有A型顯示、發(fā)射脈沖、脈沖幅度、脈沖寬度、回波、底面回波、缺陷回波、干擾回波、遲到回波、幻象回波、分貝、聲阻抗、衰減、  缺陷、時基線、掃描、掃描范圍、  掃描速度、水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍、脈沖重復(fù)頻率、檢測頻率、回波頻率、靈敏度、靈敏度余量、分辨力、閘門、衰減器、信噪比、增益、距離波幅曲線(DAC)、耦合、試塊、標(biāo)準(zhǔn)試塊、對比試塊、探頭、壓電材料、晶片、隔聲層、直探頭、斜探頭、探頭入射點(diǎn)、探頭角度、探頭前沿等。了解這些術(shù)語所代表的確切含義，有助于更好地使用儀器進(jìn)行探傷。

探傷術(shù)語

A型顯示:

以水平基線(X軸)表示距離或時間，用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)(Y軸)表示幅度的一種信息表示方法。

發(fā)射脈沖:

為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖。

脈沖幅度:

脈沖信號的電壓幅值。當(dāng)采用A型顯示時，通常為時基線到脈沖峰頂?shù)母叨?/p>

脈沖寬度:

以時間或周期數(shù)值表示的脈沖持續(xù)時間。

回波:

從反射體上反射回來的超聲信號

底面回波:

由被檢件底面反射回來的波。

缺陷回波:

由被檢件內(nèi)部或表面缺陷引起的回波。

干擾回波:

妨礙探傷結(jié)果評定的各種回波總稱為干擾回波。其中包括假反射波，楔內(nèi)反射波以及因儀器的噪聲、外界干擾等產(chǎn)生的反射波等。

遲到回波:

來自同一反射體的回波，因所經(jīng)的路徑不同或在途中發(fā)生波型轉(zhuǎn)換而遲后到達(dá)的回波。

幻象回波:

由于超聲探傷儀重復(fù)頻率過高，在透聲性良好的材料中所出現(xiàn)的非真實(shí)回波(鬼波)。

分貝:

兩個振幅或者強(qiáng)度比的對數(shù)表示。顯示屏上兩波高的比較就常常用分貝表示。

聲阻抗:

聲波的聲壓與質(zhì)點(diǎn)振動速度之比，通常用介質(zhì)的密度p和速度c的乘積表示。

衰減:

超聲波在介質(zhì)中傳播時，隨著傳播距離的增大，聲壓逐漸減弱的現(xiàn)象。

缺陷

尺寸、形狀、取向、位置或性質(zhì)對工件的有效使用會造成損害，或不滿足規(guī)定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求的不連續(xù)性。

時基線:

A型顯示熒光屏中表示時間或距離的水平掃描線

掃描:

電子束橫過探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動。

掃描范圍:

熒光屏?xí)r基線上能顯示的最大聲程

掃描速度:

熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。

水平線性:

超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號與輸入接收器的信號(通過校正的時間發(fā)生器或來自已知厚度平板的多次回波) 成正比關(guān)系的程度。

垂直線性:

超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號與輸入接收器的信號幅度成正比關(guān)系的程度。

動態(tài)范圍:

在增益調(diào)節(jié)不變時，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大與最小反射面積波高之比。通常以分貝表示。

脈沖重復(fù)頻率:

為了產(chǎn)生超聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵探頭晶片的脈沖次數(shù)。

檢測頻率:

超聲檢測時所使用的超聲波頻率，通常為0.5~15MHZo

回波頻率:

回波在時間軸上進(jìn)行擴(kuò)展觀察所得到的峰值間隔時間的倒數(shù)。

靈敏度:

在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的最小超聲信號的一種量度

靈敏度余量:

超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測靈敏度與最大探測靈敏度之間的差值。

分辨力:

超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個相鄰缺陷的能力。

閘門:

為監(jiān)控探傷信號或作進(jìn)一步處理而選定一段時間范圍的電子學(xué)方法

衰減器:

使信號電壓(聲壓) 定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。

信噪比:

超聲信號幅度與最大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。

增益:

超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對數(shù)形式。以分貝表示。

耦合:

在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。

距離波幅曲線 (DAC)

根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個參量繪制的一組曲線。實(shí)際探傷時，可由測得的缺陷距離和增益值從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸。

試塊:

用于鑒定超聲檢測系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。

標(biāo)準(zhǔn)試塊:

材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或權(quán)威機(jī)構(gòu)檢定的試塊。用于對超聲檢測裝置或系統(tǒng)的性能測試及靈敏度調(diào)整。

對比試塊:

調(diào)整超聲檢測系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。

探頭:

發(fā)射或接收(或既發(fā)射又接收) 超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo).

插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成。

壓電材料:

具有壓電效應(yīng)性質(zhì)的材料，如石英、欽酸、鉆酸鉛等。

晶片:

超聲探頭中的電聲轉(zhuǎn)換元件。主要采用石英，欽酸鋇和錯酸鉛等壓電材料制成，其形狀有平面、曲面等。

隔聲層:

雙晶探頭中用以使兩者在聲路上分割開來的吸聲性強(qiáng)的隔片。

直探頭:

進(jìn)行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。

斜探頭:

進(jìn)行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波。

探頭入射點(diǎn):

橫波探頭或表面波探頭上發(fā)射聲束軸線通過探頭底面的點(diǎn)

探頭角度:

斜探頭鋼中折射角正切值 (K值)，用阿拉伯?dāng)?shù)字表示

探頭前沿:

斜探頭的前沿長度，是指入射點(diǎn)至探頭前沿的距離。