超聲波探傷檢測(cè)時(shí)為了更好的對(duì)缺陷進(jìn)行定位，定量，我們需要了解以下知識(shí)！

適用：無(wú)底波，工件厚度X＜3N

      曲線法校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度是利用對(duì)比試塊中規(guī)則反射體大小相同而距離不同來(lái)制作距離—波幅曲線作為基準(zhǔn)靈敏度，實(shí)際檢測(cè)中用缺陷反射回波與該曲線進(jìn)行比較來(lái)確定缺陷的當(dāng)量大小。

      需要加工一個(gè)試塊，通過標(biāo)準(zhǔn)要求將試塊中的反射體波高調(diào)節(jié)到規(guī)定高度來(lái)確定檢測(cè)靈敏度。

適用：工件平或者曲底面，X≥3N

      已知工件大平底靈敏度，然后利用工件底面回波與同深度的人工缺陷的回波分貝差來(lái)確定檢測(cè)人工反射體的檢測(cè)靈敏度。

適用：X≥3N，且缺陷尺寸小于聲束截面尺寸

   其中計(jì)算法和AVG曲線都是通過理論回波聲壓公式進(jìn)行計(jì)算，前者是人工代入公式手算，后者是通過在儀器上繪制AVG曲線儀器自動(dòng)計(jì)算。

適用：聲束截面尺寸大于缺陷尺寸

根據(jù)缺陷波高與探頭移動(dòng)距離來(lái)確定缺陷尺寸

      以最高波為相對(duì)基準(zhǔn)，探頭沿缺陷長(zhǎng)度移動(dòng)探頭，降低一定分貝值（常用降低6dB）來(lái)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度；

●該法分為半波高度法也叫6dB法：

將波高降低6dB后正好為原來(lái)的一半；

●又分端點(diǎn)半波高度法也叫端點(diǎn)6dB法：

當(dāng)缺陷各部分反射波高有很大變化，有多個(gè)高峰時(shí)，測(cè)長(zhǎng)法常采用端點(diǎn)半波高度法。

   在儀器靈敏度條件一定時(shí)，探頭沿缺陷長(zhǎng)度方向平行移動(dòng)，當(dāng)缺陷波高降到規(guī)定高度時(shí)（通常是評(píng)定線）探頭移動(dòng)的距離為缺陷的指示長(zhǎng)度。