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CSK-IA超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊的使用說明

2022-10-17 11:02:27 admin

CSK-IA試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013中規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊,其結(jié)構(gòu)尺寸如圖所示。

、沈陽宇時(shí)先鋒

水平線性(時(shí)基線性)的檢驗(yàn)

沈陽宇時(shí)先鋒

水平線性又稱時(shí)基線性,或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的程度。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線性的測試可利用任何表面光滑、厚度適當(dāng),并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊,用縱波直探頭獲得多次回波,并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對齊,之后,觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試步驟如下:

(1)將直探頭置于CSK-ⅠA試塊上,對準(zhǔn)25mm厚的大平底面,如圖a所示


(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕,使示波屏上出現(xiàn)五次底波B1到B5,且使B1對準(zhǔn)2.0,B5對準(zhǔn)10.0,如圖b所示


(3)觀察和記錄B2、B3、B4與水平刻度值4.0、6.0、8.0的偏差值a2、a3、a4。


(4)計(jì)算水平誤差:公式  △L=∣amax∣%



式中,amax——a2,a3,a4中最大者


b——示波屏水平滿刻度值


縱波探測范圍和掃描速度的調(diào)整


沈陽宇時(shí)先鋒

在利用縱波探傷時(shí),可以利用試塊的已知厚度來調(diào)整探測范圍和掃描速度,此過程我往往和檢驗(yàn)時(shí)基線性同步進(jìn)行。當(dāng)探測范圍在250mm以內(nèi)時(shí),可將探頭置于25mm厚的大平底上,使四次底部回波位于刻度四,十次底部回?fù)芪挥诳潭仁?,則刻度十就代表實(shí)際探測聲程為250mm。當(dāng)探測聲程范圍大于250mm時(shí),可將探頭置于如圖的B或C處,使各次底波位于相應(yīng)的刻度處,此時(shí)起始零點(diǎn)亦同時(shí)得到修正。




橫波探測范圍和掃描速度的調(diào)整




由于縱波的聲程91mm相當(dāng)于橫波聲程50mm,因此可以利用試塊上91mm來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波1:1,先用直探頭對準(zhǔn)91底面,是B1、B2分別對準(zhǔn)50、100,然后換上橫波探頭并對準(zhǔn)R100圓弧面,找到最高回波,并調(diào)至100即可。



測定儀器和直探頭的遠(yuǎn)場分辨力


(1)抑制旋鈕調(diào)至“0”,探頭置于如圖所示位置,左右移動探頭,使顯示屏上出現(xiàn)85、91、100三個(gè)反射回波A、B、C如圖所示,則波峰和波谷的分貝差20Lg(a/b)表示分辨力。


(2)NB/T47013-2015中規(guī)定,直探頭遠(yuǎn)場分辨力大于等于20dB。


沈陽宇時(shí)先鋒

測定儀器和斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力沈陽宇時(shí)先鋒

沈陽宇時(shí)先鋒

(1)探頭置于如圖所示位置,對準(zhǔn)50mm、44mm、40mm階梯孔,使示波屏上出現(xiàn)三個(gè)反射波。


(2)平行移動探頭并調(diào)節(jié)儀器,使50mm、44mm回波等高,如圖所示,其波峰和波谷分別為h1、h2,其分辨力為


NB/T47013-2015中規(guī)定,斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力大于等于12分貝。



測定斜探頭入射點(diǎn)

沈陽宇時(shí)先鋒

將探頭置于圖示位置,向R100mm的圓弧發(fā)射超聲波,前后移動探頭,直到R100mm圓弧面反射波達(dá)到最高點(diǎn),此時(shí)與CSK-1A試塊側(cè)面標(biāo)線中心點(diǎn)“0”相對應(yīng)的探頭契塊那一點(diǎn)即為探頭入射點(diǎn)。



測定斜探頭的K值 根據(jù)探頭折射角的大小,將探頭置于試塊的不同位置進(jìn)行測量,如圖所示。波形圖同于入射點(diǎn)波形圖。

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測量時(shí),探頭應(yīng)放正使波束中心線與試塊側(cè)面平行,前后移動探頭,找到50mm孔或1.5mm孔的最高反射波。此時(shí),聲束中心線必然與入射點(diǎn)和圓心之間的連線相重合,即聲束中心線垂直于孔表面。這時(shí),試塊上與入射點(diǎn)相應(yīng)的角度線所標(biāo)的值即為該斜探頭的K值。



垂直線性的檢驗(yàn)


沈陽宇時(shí)先鋒

將探傷儀的抑制和補(bǔ)償旋鈕置于“0”或“關(guān)”用直探頭放置在圖中A或B位置。并保證探頭與試塊之間有良好的聲耦合。




調(diào)整衰減器使試塊底波高度為熒光屏的滿刻度,此時(shí)必須有30分貝的衰減量。然后每衰減2分貝用百分率讀出反射波高度,直到26分貝,在判斷30分貝時(shí)反射波是否存在,將結(jié)果記錄表中。評定垂直線性時(shí),以反射波高度的理想波高為基準(zhǔn),以測試值與基準(zhǔn)值的最大正偏差(+d)及最大負(fù)偏差(-d)之和來判定垂直線性。


D=[|+d|+|-d|]×%




盲區(qū)的估計(jì)




盲區(qū)是指最小的探測距離,測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中D、E位置,測量50mm圓孔反射波。從而可以估計(jì)出盲區(qū)小于等于5mm或大于等于10mm,或者介于兩者之間。




最大穿透能力估計(jì)




將直探頭置于探頭位置圖中F位置,將儀器個(gè)靈敏度旋鈕均置于最大,測試試塊中有機(jī)玻璃塊反射波次數(shù)和最后一次反射波高度。以此來估計(jì)最大穿透力,借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時(shí)間變化的情況。


探測靈敏度的調(diào)整


根據(jù)AVG原理,在探頭探傷時(shí)可把R100mm圓弧面視為大平底反射,以此來調(diào)整探測靈敏度。直探頭探傷時(shí)可把厚度為25/100mm的幾個(gè)側(cè)面視為大平底處理,以此來調(diào)整靈敏度。另外,也可以根據(jù)探傷要求,儀測量1.5mm橫通孔反射波來確定靈敏度。


測定斜探頭聲束軸線偏離

沈陽宇時(shí)先鋒

在CSK-ⅠA試塊上厚25mm的平面上,使聲束指向棱邊,對于K值小于等于1的探頭,聲束經(jīng)底面反射指向上棱角;K值大于1的聲束指向下棱角,前后左右擺動探頭,使所測棱邊端角回波幅度最高,固定探頭不動,然后用量角器或適當(dāng)?shù)姆椒y量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法線的夾角(例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角),即為聲束軸線偏斜角。應(yīng)當(dāng)注意:斜探頭的聲束擴(kuò)散角較大時(shí),可能影響到最大回波的探測,以致可能產(chǎn)生較大的測量誤差。


沈陽宇時(shí)先鋒

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