探傷儀檢測(cè)內(nèi)部缺陷類型講解
2021-06-08 11:02:48
admin
宇時(shí)先鋒超聲波探傷儀對(duì)部件探傷,不同性質(zhì)的缺陷,其缺陷波形的特征亦不相同,下面簡(jiǎn)單介紹下:
點(diǎn)狀非金屬夾雜物: 缺陷波波峰較圓,而波幅較低且遲鈍,當(dāng)宇時(shí)先鋒超聲波探傷儀探頭位置移動(dòng)不大時(shí),缺陷波很快消失。
聚積非金屬夾雜物: 缺陷波呈連串的波峰,波幅一般較弱,其波形間有一二個(gè)較高的缺陷波。當(dāng)移動(dòng)探頭時(shí),缺陷波在一定寬度范圍內(nèi)變化,波峰此起彼落,波形顯得混淆雜亂、遲鈍、幾個(gè)缺陷波峰值相混為一,呈圓球狀或鋸齒狀,左右滾動(dòng)。探傷時(shí)缺陷分部越密則波形越亂。當(dāng)降低探測(cè)靈敏度時(shí),只有個(gè)別較高的缺陷波出現(xiàn),而波幅下降,底波無(wú)明顯的變化。
疏松: 疏松對(duì)聲波有吸收和散射作用,故使底波明顯降低甚至消失,疏松嚴(yán)重時(shí),無(wú)缺陷波,當(dāng)探頭移動(dòng)時(shí),間或出現(xiàn)波峰很低的蠕動(dòng)波形。當(dāng)提高探測(cè)靈敏度時(shí),會(huì)出現(xiàn)一些微弱而雜亂的波形,但無(wú)底波。