一、主要原因

　　(一)發(fā)射電路部分

　　1.電源電壓E過低

　　2.閘流管或可控硅導電時，內(nèi)阻太大。

　　3.觸發(fā)波重復頻率太高或閘流管的負載電阻R太大，使發(fā)射電路中電容C不能充電至電源電壓E。

　　4.電容C漏電 5.諧振式發(fā)射電路中，諧振頻率與探頭的自然頻率偏離太大。

　　(二)接收電路部分

　　1.電子管或晶體管衰老。

　　2.電子管或晶體管工作點(偏流或偏壓)不在最佳點。

　　3.電源電壓低(濾波電容漏電)

　　4.調(diào)諧回路調(diào)亂，放大頻率與發(fā)射頻率不一致。

　　(三)宇時先鋒超聲波探傷儀探頭部分

　　1.晶片的靈敏度低(發(fā)射及接收的靈敏度的乘積低)。

　　2.晶片的自然頻率與發(fā)射頻率或放大頻率不一致。

　　3.晶片的銀層脫落

　　4.保護膜片磨損。

　　5.保護膜片與晶片之間的油層流失(有的探頭保護膜與晶片直接粘合)。

　　6.吸收塊阻尼太大。

　　7.晶片的阻抗與探頭引線的阻抗不匹配(如用低阻抗的電纜線連接高阻抗的石英晶片)。

　　8.探頭在超過其居里溫度的高溫工作物上探測效率低。

　　9.探頭線及插座頭接觸不良。

　　(四)示波管部分

　　1.偏轉(zhuǎn)靈敏度低。

　　2.加速極電壓過高。

　　二、檢查方法

　　(一)檢查發(fā)射電路

　　1.用萬用表測量超聲波測厚儀電源電壓是否過低

　　2.用萬用表測量閘流管(可控硅)的屏(陽)極電壓的平均值是否偏高或偏低

　　3.檢查電容C是否漏電

　　4.用脈沖示波器(或用外差式波長計)測量發(fā)射波的頻率是否符合。用試塊檢查時，將探頭放在試塊上，是熒光屏上有反射波，調(diào)整發(fā)射電路中線圈L的鐵心，是反射波最高

　　(二)檢查接收電路

　　1.測量各級電壓是否正常。

　　2.檢查調(diào)諧頻率及放大倍數(shù)，有以下幾種方法：

　　(1)將高頻信號發(fā)生器的輸出端接在接收電路的輸入端，將電壓表接在檢波電路的輸出端，改變高頻信號發(fā)生器的頻率(輸出電壓不變)，記下電壓表的數(shù)值。電壓最大時的頻率應(yīng)與發(fā)射頻率符合，并記下放大倍數(shù)。如頻率偏離過大，則需調(diào)整探傷儀各級線圈。

　　(2)將探頭放在試塊上，使熒光屏上有反射波，用示波器觀察各級屏極(或集電極)的波形是否一級比一級大(從前級往后級)，如有一級波形不夠大，說明該級有問題。

　　(3)放大電路如系單調(diào)諧，將探頭放在試塊上，調(diào)各級線圈的鐵心，使反射波最高。

　　3.檢查電子或晶體管是否衰老。

　　4.調(diào)整工作點(電子管的陰極電阻、晶體管的射極電阻及基極分壓電阻)。

　　5.檢查調(diào)諧線圈是否霉斷。

　　(三)檢查探頭部分

　　1.首先用良好的探頭探測，如宇時先鋒超聲波探傷儀靈敏度提高了，說明原探頭有問題，需換新。

　　2.如晶片退化，可重新電極化，有的儀器有極化插座，將探頭插在插座上，開機通電十分鐘即可。如無極化插座，在探傷儀內(nèi)部示波管的高壓回路中，引出適當電壓即可。鈦酸鋇的極化電壓為每毫米2000伏，鋯鈦酸鉛為每毫米4000伏。晶片初次極化時，將晶片夾在夾具中，滄州歐譜并侵入盛有變壓器油的容器中，并將容器放在電爐上，加溫至居里溫度(鈦酸鋇120℃，鋯鈦酸鉛300℃)后接通電壓，20分鐘后切斷電爐電源，使變壓器油自然冷卻至室溫時，將高壓關(guān)掉即可。

　　3.晶片的壓電性能可用簡單的方法檢查，即用高靈敏度的電子管電壓表檢查，將地線一端壓在晶片的一端，將表棒稍用力壓晶片的另一端，看電壓表指針的偏轉(zhuǎn)是否大，如不偏轉(zhuǎn)或偏轉(zhuǎn)甚小，則壓電性能不好。

　　(四)檢查示波管部分

　　1.檢查示波管的偏轉(zhuǎn)靈敏度 將電壓表跨接于垂直偏轉(zhuǎn)板，正表棒接示波管的第7腳，負表棒接第8腳，開機后記下掃描線在熒光屏上的位置，并記下電壓表的數(shù)值，然后調(diào)節(jié)儀器面板上的垂直位移電位器W，使掃描線向上，移動A毫米，若此時電壓表指示電壓的變化為B伏特，則偏轉(zhuǎn)靈敏度=A/B 毫米/伏 正常偏轉(zhuǎn)靈敏度為0.35~0.54毫米/伏，若所得之值比正常值小的多，則應(yīng)換新管。

　　2.檢查加速極電壓 示波管的偏轉(zhuǎn)靈敏度與加速極電壓成反比，若加速極電壓過高，應(yīng)減低之。